Center for Relativistic Laser Science

 모델 4210-CVU 멀티 주파수 C-V 모듈은 모델 4200-SCS 샤시의 1개 슬롯을 차지하며 최대 4,096개의 데이터 지점에서 선형 또는 커스텀 C-V, C-f, C-t 측정 스위프를 제공합니다. 내장 보상 루틴은 기생 효과를 제거하고 DUT로의 연결 무결성을 보장합니다. 선택적인 파워 패키지는 최대 +/- 200 V의 DC 전압 바이어스를 가능하게 합니다. 이 모델은 멀티 주파수 (1kHz 10MHz), 초저주파수 (10mHz 10Hz), 준정적 C-V를 지원하도록 설정될 수 있습니다.
펄스 I-V 테스트는 펄스 I-V, 과도 I-V, 펄스 소싱의 3가지 형태의 초고속 I-V 테스트을 수행할 수 있습니다. 펄스와 과도 측정은 분석에 시간 영역 차원을 더하며 동적 특성 확인을 가능케 합니다. DC 신호 대신에 펄스 I-V 신호를 사용하여 기기를 특성화하면 자가 발열 효과를 연구 또는 감소시키거나 트랩 전하로 인한 전류 드리프트를 최소화시킬 수 있습니다. 또한 펄스 소싱은 안정 주기 또는 메모리 기기 프로그램 및 삭제 과정 중에 기기의 스트레스 테스트에 사용될 수 있습니다.